Současná generace mikroskopů funguje na základě detekce tunelovacího proudu, popřípadě prostřednictvím atomárních sil působících mezi hrotem mikroskopu a jednotlivými atomy na povrch pevné látky. V poslední době se intenzivně diskutuje o možnosti dosažení atomárního rozlišení pomocí tzv. Kelvinova mikroskopu atomárních sil, který detekuje změnu aplikovaného elektrického potenciálu kompenzující přenos náboje mezi hrotem a povrchem pevné látky. Mezinárodní tým vědců z Německa, Japonska a České republiky publikoval v posledním čísle časopisu...